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搜尋「高速量測」,共 30

Anritsu 安立知宣布正式於全球同步推出 ML2439A 寬頻峰值功率計。此款先進量測解決方案專為滿足全球工程師與產業專業人士持續演進的功率測試需求而打造。ML2439A 兼具卓越效能與高度靈活性,可無縫整合 Anritsu 安立知的全

隨著半導體邁向更小製程節點、3D堆疊與先進封裝設計,晶圓幾何形貌的微小差異,已成為影響良率與性能的關鍵變因。晶片設計愈複雜,材料疊層愈多,製程整合挑戰也隨之放大,在混合接合、晶背供電與高堆疊NAND等先進技術導入下,僅有奈米級的翹曲或高度偏

即使如今機器視覺技術蓬勃發展,惟若檢視其在製造業應用,仍須提升精度、彈性,以達到智慧減碳製造目標;同時支援次世代產品如半導體、電動車不斷推陳出新,提供量測可追溯性解決方案。

現在面板驅動IC業者不必再為了提升傳統探針卡測試效率而加購備卡。中華精測科技今(27)日召開2023年第一季營運說明會,中華精測科技總經理黃水可在會議中宣布,自4月起正式進軍面板驅動IC測試市場,新推出的DDI專用MEMS探針卡,將搭配「一

工研院擬於2017年底前完成高速量測實驗室建置,將成為亞洲當中與400GE & Silicon Photonics 相關應用的測試實驗室,對於台灣未來計畫發展成為高速光電元件研發重鎮的目標注入了一劑強心針。此外,該實驗室也將開放接受產學研各

是德科技(Keysight)日前發表新的實作方法(MOI)指南,讓工程師能使用ENA系列網路分析儀的增強時域分析選項(E5071C-TDR),執行PCIe 3.0發射器/接收器(Tx/Rx)阻抗和回返損耗測試(Hot TDR/RL)。該指南

是德科技(Keysight)日前發表新的實作方法(MOI)指南,以協助工程師使用Keysight ENA系列網路分析儀的增強時域分析選項(E5071C-TDR),對USB 3.1和USB C型連接器與纜線組裝配件進行相符性測試。該MOI針對

羅德史瓦茲(R&S)推出全新R&S TSMA行動網路掃描器僅1200克,可單機執行不須與電腦連接,因此更容易在需要進行網路優化的場所進行數據量測,它可以支援現在及未來的無線通訊標準並提供高速量測。 R&S這款全新的行動網路掃描器整合了高功率

大幅簡化ENA網路分析儀之介面S參數和阻抗測試流程 是德科技(Keysight)日前提供符合MIPI聯盟D-PHY 1.1版標準之發射器/接收器(Tx/Rx)介面S參數和阻抗測試的實作方法(MOI)文件。Keysight MOI提供內含狀態

是德科技(Keysight)日前推出新的實作方法(MOI)文件,以協助工程師使用ENA系列網路分析儀的增強型時域分析選項(E5071C-TDR),根據HDMI 1.4b版標準定義的相符性測試規格,執行HEAC(HDMI Ethernet音頻

是德科技(Keysight)日前推出新的實作方法(MOI)文件,以協助工程師使用ENA系列網路分析儀的增強型時域分析選項(E5071C-TDR),根據USB 2.0標準執行連接器和纜線組裝配件相符性測試。 USB是90年代中期所制定的工業標

隨著數位世界越來越複雜,無論是目前還是未來的物理/電子現象記錄系統,都必須解決全新的資料擷取與記錄難題。

NI 日前發表 NI PXIe-5632 VNA,這款產品可協助工程師滿足日趨複雜的 RF 測試需求,而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案,必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的 PXIe VNA 採用創新的雙源架構,頻率範圍則是 300