是德科技（Keysight）日前發表新的實作方法（MOI）指南，讓工程師能使用ENA系列網路分析儀的增強時域分析選項（E5071C-TDR），執行PCIe 3.0發射器/接收器（Tx/Rx）阻抗和回返損耗測試（Hot TDR/RL）。該指南詳細介紹時域和頻域量測程序，並可與是德科技狀態檔等測試套件搭配使用，以大幅簡化相符性測試和配置。
隨著數位應用的傳輸速率不斷提高，阻抗匹配變得極為重要，因為它對眼圖張開/閉合程度有著顯著的影響。藉由評估PCIe 3.0主動元件（TX/RX）在開機和運作狀態下的阻抗，工程師可獲得多重反射的量化結果，讓此測試挑戰迎刃而解。熱TDR /熱回返損耗量測讓工程師能夠更全面地洞察信號完整性問題，並確保以多Gb速率運作的高速元件能夠維持應有的效能。
台灣是德科技總經理張志銘表示：「是德科技MOI可用於許多不同的高速數位應用，例如USB、DisplayPort和Ethernet。最近我們又新增了PCIe 3.0 MOI，再一次展現我們竭盡全力提供客戶所需功能的決心，讓客戶能輕鬆地克服高速量測挑戰。」
適用於E5071C-TDR的PCIe 3.0 MOI現已開始對外供貨。（編輯部陳復霞整理）
