可程式化電源供應測試LED方案 (2008.03.03)

高度量產的環境中，針對如二極體的半導體特性記述測試，測試解析度與測試時間可隨時進行取捨。較慢速ADC的GPIB架構裝置，的確與PXI平台加上最新的量測技術有著極大的差異。僅使用可程式化PXI電源供應方案，效能超過傳統匯流排解決方案，且由於可程式化PXI電源供應是以IVI驅動程式為基礎，因此僅需小幅修改軟體，即可將現有的設備升級，並提高系統的測試速度。…