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搜尋「晶圓探針台」,共 7

晶圓測試都是在晶圓上透過自動化探針台自動去尋找晶圓上的目標,自動點擊以進行量測,因此除了高頻率的VNA之外,對探針與探針台的要求也非常高。晶圓測試大廠安立知(Anritsu)推出了新款VNA,可以一路從70KHz掃頻到200GHz,克服傳統

安立知(Anritsu)推出 VectorStar ME7838G寬頻向量網絡分析儀(VNA)–首款能夠在單次掃描實現70kHz至220GHz量測的VNA。其可提供前所未有的頻率覆蓋範圍,能讓工程師在更廣泛的頻率範圍內更精準及有效地分析設備

旺矽科技(MPI)攜手羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz,R&S)建置高精度晶圓研發測試解決方案,其中包含了 MPI晶圓探針台系統與QAlibria校正軟體,提供射頻與毫米波元件及積體電路(IC)研發人員從校正(calibratio

是德科技(Keysight)日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台,以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統(包含儀器和晶圓探測器)中,有效地控制所有元件

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈與Cascade Microtech建立策略聯盟,雙方將共同提供經過完整配置與驗證的晶圓級射頻量測解決方案,以協助工程師加速進行晶圓級半導體量測。同時,兩家公司還共同提