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搜尋「晶圓品質檢測」,共 2

為因應半導體產業快速變遷與人才需求,國立臺灣科技大學於113學年度成立「先進半導體科技研究所」,聚焦矽光子技術、複合半導體材料及先進封裝等前瞻領域。臺科大並藉由國科會晶創計畫建置的矽光子測量、封裝設備活化華夏校區,為產業及學生提供完整的學習

因應通訊元件、設備和系統製造商的需求,筑波科技推出一種用於化合物半導體的非破壞性晶圓品質測量方案TZ6000。此方案結合TeraView的TeraPulse Lx技術,針對厚度、折射率、電阻率、介電常數、選定位置的表面/次表面缺陷和整個晶圓