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搜尋「元件測試」,共 166

愛德萬測試 (Advantest Corporation) 與東京精密 (Tokyo Seimitsu)將合作開發最新晶粒級 (die-level) 針測機,用於高效能運算 (HPC) 元件的測試需求。 半導體技術預料在未來數年將日益精進且

矽光子正快速從實驗室走向商業化階段,成為支撐高速運算、資料中心及異質整合架構不可或缺的關鍵技術。然而,矽光子在量產與測試面仍有諸多挑戰有待克服。未來矽光子有望實現更高良率、更低成本的製造目標,加速落地。

人工智慧在全球加速發展,尤其大型語言模型(LLM)與生成式AI應用不斷推升對資料中心算力的需求,測試儀器廠商正悄然進行一場策略轉型。過去專注於晶片、通訊與電子設備測試的廠商,如是德科技(Keysight Technologies),如今積極

CTIMES日前舉辦了「數位電源驅動雙軸轉型:電子系統開發的綠色革命」為主題的東西講座研討會,此次會議深入探討了數位電源技術在推動電子系統開發的雙軸轉型中的關鍵作用,即實現更高的能源效率和更快的產品創新。

為了對所有形式的5G FR1基站和小功率基地台進行高速、高產能測試,以及對射頻元件進行表徵或生產,Rohde & Schwarz推出了新款R&S PVT360A效能向量測試儀。在最小的佔用空間內,這台緊湊的單機儀器以其訊號產成和分析能力提供

5G FR1終端及基礎建設已成型,全球科技產業緊鑼密鼓的佈局另大家翹首盼望的5G FR2。5G毫米波生態鏈中的材料、元件尤為通訊產業中的重中之重,為基礎應用不可或缺的一環。羅德史瓦茲、工研院及天正國際共同完成5G FR2(28 Hz)頻段技

工研院「循環低碳碳化矽晶圓製程技術創新講座」,邀請碳化矽晶圓材料與製程廠商代表與會,期望藉由此課程交流機會,提升產業低碳碳化矽長晶技術能量。筑波集團董事長許深福分享「WBG半導體材料測試挑戰與方案」,如何提升測試技術、確保製程品質、降低成本

R&S ZNrun為向量網路分析儀自動化套件,負責控制向量網路分析儀和切換器,其提供高速乙太網電纜元件的自動化測試,與手動乙太網電纜元件測試方法相比,大大減少了測試時間和潛在錯誤。Rohde & Schwarz將在加利福尼亞州聖克拉拉舉行的

愛德萬測試公佈了2020 會計年度財報,包含創紀錄的訂單、銷售額和淨收入,其結果遠超過第一個中期管理計劃中設定的目標。這個亮眼的成績來自於愛德萬測試廣泛的產品組合,以及為全球客戶提供高質量的服務。此外,近三年開展的兩個併購項目打開了系統級測

愛德萬測試 (Advantest Corporation) 針對次世代解決方案進行先導測試,運用先進IC現有之高速串列I/O介面,在V93000平台同時執行高速掃描測試與軟體驅動功能元件測試。此全新方法能使在新的測試架構上的掃描測試結果與既

Rohde & Schwarz(R&S)推出促銷優惠活動「Full Bench, High Value」,不僅提供客戶更多選擇與方便,還大大節省了他們的時間,因為各種儀器的所有可用選項都已打包在內。每種儀器因此都能以優勢價格,成為經得起未來