安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣佈推出功能強大的新型自動測試夾具移除（AFR）選項。該選項適用於PNA系列網路分析儀，並且具備過去只有安捷倫實體層測試系統（PLTS）軟體才提供的誤差修正技術，讓工程師能用業界最快、最簡單的方法，精準執行非同軸元件量測，進而節省可觀的時間和金錢。
當今許多元件都沒有同軸連接器，因而需使用測試夾具在同軸環境中進行量測。然而，工程師必須去除測試夾具效應，以確保待測物（DUT）的量測準確度。雖然工程師也可以透過EM模擬軟體的建模功能或是主機內建的多個校驗套件，來評估並去除測試夾具效應，但這些方法既複雜又費時。
適用於PNA的新型AFR選項讓工程師能更快速、準確地移除非同軸元件量測結果中，測試夾具所導致的誤差。而方便易用的5步驟指引精靈則可快速引導工程師完成必要的操作。此外，工程師可將解嵌入檔儲存為各種不同的格式，以便將來用於PNA、PLTS和先進設計系統（ADS）軟體。
使用AFR選項時，工程師首先必須透過連接測試夾具]的參考平面，在同軸環境中進行校驗。接著代表測試夾具的雙埠直通連接或半終接(half terminated)之開路及短路標準參數模型將被量測。甚至可進行簡易單埠AFR，進行快速的測試夾具解嵌入，如此可在DUT安裝於開路校驗套件之前，對測試夾具進行實際量測。之後AFR選項還可自動進行特性分析並移除測試夾具的誤差。PLTS軟體現在也提供這項單埠AFR功能。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示：「新的AFR選項具有足以媲美機板上TRL校驗的準確度，而且更方便易用。對於從未使用過AFR的微波工程師而言，他們無需進行複雜的EM模擬或建構機板校驗套件，便可準確地修正測試夾具效應。而已經相當熟悉AFR的信號完整性工程師，則可利用單埠功能，節省大量的量測時間。」
