使用Microchip的CIP來實現線性回授移位暫存器LFSR (2016.12.30)

使用Microchip的CIP (Code Independent Peripherals) 來實現線性回授移位暫存器LFSR…

WCDMA編碼技術探微 (2006.03.01)

3G行動通訊的發展近來已成為市場矚目焦點，WCDMA標準更是此一系統的核心，本刊將分期詳細介紹WCDMA實體層設計技術，本文重點為應用在W-CDMA FDD/TDD系統的編碼技術，主要的重心還是在W-CDMA FDD上面。…

奈米級IC測試挑戰 (2005.05.05)

過去數年，數位電路的測試方法一直隨著科技演進。其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的測試方法。當測試的複雜度增加時，以功能性測試法來檢測製程的缺陷（defect）將變得越來…

微處理器測試的SoC時代新挑戰 (2003.05.05)

在電子產品中應用廣泛的微處理器，隨著晶片面積縮小、功能與複雜度增加，其設計驗證與生產測試的難度也隨之增加；本文將針對微處理器的生產測試技術，為讀者剖析目前微處理器主要的測試策略，以及在系統晶片（System on Chip；SoC）時代所面臨的新挑戰以及可能的解決之道。…