安立知全新ShockLine VNA可降低驗證 E-band零組件測試成本 (2015.12.10)

安立知（Anritsu）為其 ShockLineMS46500B 系列 2埠及 4埠高性能向量網路分析儀 （VNA） 推出 E-band 選項，以滿足降低E-band 零組件測試成本的市場需求。安裝新選項的 MS46500B 系列可降低生產…

混合訊號設計與測試挑戰 (2008.04.20)

電子產品的多元化及多樣化發展，擴展了混合訊號IC發展的更多可能性。而更先進的製程除了增加了混合訊號IC的電路設計複雜度之外，同時也加深了設計上的因難。為了因應這些挑戰，不僅設計流程需要進行調整及最佳化，針對設計完成後的量測工作也更增添難度。…