Tektronix為HDMI接收器測試新增進階及特性分析支援功能 (2015.06.25)
全球示波器製造商太克科技（Tektronix）擴展HDMI測試解決方案的產品組合，加入適用於HDMI2.0接收器測試的進階分析和特性分析支援。全新的HDMXpress將可為HDMI測試碼型產生、自動校準和邊際測試等作業提供完整的支援，讓使用…
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IDT 推出具整合型頻率容限能力的抖動微機電震盪器 (2013.04.08)
混合訊號半導體方案公司IDT (Integrated Device Technology)，今天宣佈推出業界第一款有著典型相位抖動效能為 100 飛秒及整合型頻率容限能力的差動式微機電震盪器。這款有著極低相位抖動及智慧型輸出頻率的IDT高效…
太克推適用BERTScope的PCIe 3.0接收器測試功能 (2011.06.29)
太克科技（Tektronix）於日前推出實作方法 (MOI) 草案，該方案將提供工程師使用BERTScope BSA85C 進行 PCI Express3.0接收器測試。此項功能使先前推出的解決方案更加完備，能利用下列工具驗證 PCIe3.…
Tektronix USB3.0測試方案 促使相容裝置更快上市 (2010.01.20)
Tektronix今（20）日宣佈，該公司的SuperSpeed USB解決方案，支援NEC Electronics USB 3.0相容主機控制器的訊號品質驗證作業，這是獲得USB設計論壇（USB Implementers Forum）認證…
奈米級IC測試挑戰 (2005.05.05)
過去數年，數位電路的測試方法一直隨著科技演進。其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的測試方法。當測試的複雜度增加時，以功能性測試法來檢測製程的缺陷（defect）將變得越來…