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搜尋「紫外光」,共 177

imec的量測專家在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,提供imec前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展需求。

imec的量測專家將在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,同時提供imec的前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展的需求。

隨著AI軟硬體不斷演進,記憶體的重要性如今已幾乎與算力並列,成為最重要的戰略資產。

沖繩科學技術大學院大學(OIST)新田特束教授17日於《微/奈米圖案化、材料與計量學期刊》(JM3)發表一項創新性的光學硬體破局技術,宣布對高數值孔徑極紫外光(High-NA EUV)曝光機的照明與投影系統進行激進重構,解決半導體光學功耗與

比利時微電子研究中心(imec)近日宣布所採購的ASML最新EXE:5200高數值孔徑極紫外光(high-NA EUV)微影系統已順利到廠,將進一步確立其在埃米時代扮演產業發展基地的關鍵地位,並提供其全球夥伴生態系統提前取得新一代晶片微縮技

隨著 2 奈米以下製程逐步逼近量產階段,High NA EUV(高數值孔徑極紫外光刻機)設備被視為延續摩爾定律的重要關鍵。然而,在技術突破的光環之下,產業界也開始討論一個更現實的問題:當導入門檻與投資規模再創新高,是否將進一步加速全球半導體

在全球半導體競爭日益激烈的局勢下,歐盟正式啟動 NanoIC 晶片試產線(NanoIC pilot line),意圖強化本土先進半導體研發與製造能力,並縮小與亞洲、美國先進晶片製造的技術差距。該設施於比利時魯汶(Leuven)的 imec

於今年IEEE國際電子會議(IEDM),imec展示運用極紫外光(EUV)微影技術首次成功完成的固態奈米孔晶圓級製造。固態奈米孔作為分子感測應用的有力工具,正在逐漸興起,但還未進行商業化。這項概念驗證是邁向其經濟高效(大規模)生產的關鍵一步

在AR裝置朝向輕量化、高亮度與高對比顯示快速演進之際,光學元件邊緣反射控制成為影響成像品質的關鍵製程。DELO推出一套完整的紫外光固化邊緣黑化系統,將高吸光塗層材料、噴射點膠設備與固化製程整合為完整解決方案,鎖定AR波導及高階光學元件的自動

根據報導指出,中國在極紫外光(EUV)光刻機領域已完成原型機階段的進展。此一成果被視為中國推動高階半導體設備自主化的重要里程碑,也是外界所稱「中國曼哈頓計畫」的關鍵環節之一,顯示中國正積極嘗試突破先進製程設備長期依賴海外供應的結構性限制。

迎接全球AI基礎建設熱潮,美商應用材料公司近日也發表最新半導體製造系統,將專注在3大關鍵領域,分別是環繞式閘極(GAA)、電晶體在內的前瞻邏輯製程、高頻寬記憶體(HBM)在內的高效能DRAM等。進而提升AI運算所需的先進邏輯與記憶體晶片效能

於2025年國際光電工程學會(SPIE)光罩技術暨極紫外光微影會議(美國加州蒙特雷市)上,比利時微電子研究中心(imec)發表了兩項有關單次壓印極紫外光(EUV)微影的突破性進展:(1)間距為20奈米的導線圖形,包含與鑲嵌金屬化製程相關的1

荷蘭光刻巨頭 ASML 長期壟斷極紫外光(EUV)市場,其設備成為推動半導體製程不斷前進的關鍵。然而,外界原本寄予厚望的高數值孔徑(High NA)EUV 光刻機,近期卻傳出採用進度不如預期,反映出先進技術與市場現實之間的拉鋸。 高 NA