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搜尋「參數分析儀」,共 8

正值全球半導體市場短缺之際,卻也正是半導體產業的全新機會點。 隨著新應用持續出現,預料半導體的市場需求也將居高不下。 全球測試大廠也持續針對半導體測試,推出了相應的解決方案。

太克(Tektronix)今天宣布為吉時利 4200A-SCS 參數分析儀推出兩個全新的電源量測設備(SMU)模組,即使應用因採用較長的電纜和複雜的測試設定而存在高負載電容,使用者仍可順利執行低電流量測。面臨此嚴苛挑戰的著名測試應用包括LC

是德科技(Keysight)日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台,以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統(包含儀器和晶圓探測器)中,有效地控制所有元件

美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments)近日推出首款纜線解決方案(cabling solution),利用一組申請專利中的纜線即可處理I-V、C-V或是脈衝I-V訊號。這款最新的纜線套件能夠加速並簡化從任何先進半導體參

安捷倫科技公司(Agilent Technologies Inc.)日前發表Agilent B1500A半導體器件分析儀用的新一代EasyEXPERT參數分析軟體。此新的EasyEXPERT 2.0軟體提供一個直覺、任務導向的半導體器件特性

高速通訊系統若以光纖做為媒介,在傳輸速度在2.5Gbps以上甚至更高,傳輸距離為公里尺度時,就可能造成訊號失真,延遲,偏極化等情形。本文將討論這些了解光學極化特性,造成誤差的原因及相關的量測方法,文中會先介紹色散,極化的原理,其次是對應的量測技術及範例。