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搜尋「內電路測試」,共 7

安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,已在拉斯維加斯登場的IPC APEX EXPO展會中,展示旗下新的模組化PXI型TS-8900汽車功能測試系統。安捷倫表示,該測試系統為製造中/高腳數電子控制單元的廠商,提供一個產能高出20%的標準平

安捷倫科技(Agilent)與GOEPEL electronic GmbH於日前共同宣佈,推出N1807A-001安捷倫公用程式卡適用的UCM3070邊界掃描插入式模組,該卡為Agilent Medalist i3070系列5內電路測試儀器

安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,旗下的 Agilent Medalist i3070系列5內電路測試(ICT)解決方案,在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性,對改善現今成熟

安捷倫科技(Agilent)宣佈將為內電路測試(ICT)用戶提供一個創新的方法,讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件(PCBA),而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程,時可省下夾具的成本及減少測試資源。 此項技術結合了當今電子製造測試環

國際邊界掃描(JTAG/IEEE 1149.1)測試和系統內編程(ISP)廠商ASSET InterTech Inc.與安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈將擴大雙方長期的銷售、行銷與授權合作協定。根據該協定

安捷倫科技(Agilent)所發表旗下的ENA系列RF網路分析儀,正式宣告了RF網路分析新標準的誕生。Agilent ENA系列擁有高的效能、向下延伸的頻率範圍及同級產品中最快的速度,是製造與研發工程師評估9 kHz到8.5 GHz之RF元

國際整流器公司(IR),推出將HEXFET功率MOSFET與控制器IC整合於單一封裝的全新IRIS系列高效率低成本整合開關器(Integrated Switchers)。IRIS整合開關器系列不僅簡化電路設計,更縮小了印刷電路板的使用面積;