羅德史瓦茲(R&S)最新ZNB高性能網路分析儀所提供的極大動態範圍、高精度、高速及便捷之操作介面，利用SET2DIL（單端轉差分之插入損耗）演算法驗證印刷電路板（PCB）傳輸高速差分訊號品質的最佳工具，R&S 網路分析儀ZNB之時域量測功能，結合IPC-TM-650驗證的SET2DIL技術，可直接處理時域反射訊號（TDR）與時域傳輸訊號（TDT），並計算插入損耗。
介質與導體的損耗所導致的訊號衰減與失真是高速訊號傳輸線模擬與設計的重點，在高達數十GHz時的插入損耗必須被正確地建模，並藉由量測進行驗證，以確保模擬的正確性。
最新的SET2DIL演算法是一種將兩埠時域量測結果轉換成四埠頻域參數SDD21的方法，這樣的方法只需要使用雙埠網路分析儀在單一測試點進行單端時域反射與傳輸量測，搭配R&S ZNB網路分析儀，將可取代目前需要量測兩個測試點的四埠量測，符合實驗室測試環境的需求，這樣的技術更便於直接量測SDD21，增加多數的使用者在大量量產的接受度。
R&S ZNB網路分析儀提供大面積的觸控面板，使用者可以在三個步驟內選取任何功能，寬大的螢幕並提供充足的空間顯示測試結果，以很輕鬆、直覺的方式新增任意的量測。
