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吉時利針對晶圓廠推出半導體測試軟體升級版

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吉時利儀器(Keithley)公司於日前宣佈,推出測試環境(KTE)半導體測試軟體的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利的程式控制監控方案產品線S530參數測試系統使用所設計。

吉時利表示,KTE是一款強大的測試開發和執行軟體平台,全球有數百家半導體晶圓廠皆使用吉時利前幾代的參數測試系統。現有的吉時利S400和S600系列參數測試儀用戶,將能受益於S530系統上的KTE V5.3,因為他們可以將現有的測量程式輕鬆轉移到S530,而且現有測試儀和新的S530系統可以共用同一個測試計畫。

該公司進一步表示,吉時利致力於讓新測試系統高度相容於較早的系統,以支援吉時利參數測試客戶。保持軟體相容性的承諾,使轉移路徑更為平順,並能在為測試平台加入更新、更高速測試儀的同時,保護晶圓廠的測試軟體投資。對於吉時利參數測試的新客戶而言,遵守系統軟體連續性的承諾,會讓客戶對經過業界長期驗證軟體基礎的測試系統充滿信心。

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關鍵字:晶圓