廣泛來看，諸多國際一線的半導體業者投入車用電子領域已有不短的時間，然而在市場開始推廣功能性安全標準：ISO 26262後，不光是汽車與一線模組廠需要滿足此一規範，近年來，我們可以看到不少一線車用半導體大廠，除了AEC-Q100視為解決方案的基本配備外，ISO 26262這個字眼，也開始出現在車用半導體的世界中。
然而，晶片要滿足AEC-Q100或是ISO 26262要求，追本溯源，還是要從EDA供應商出發，由EDA業者所提供的解決方案，來進一步因應車用半導體業者的設計需求。新思科技RTL合成、功率與測試自動化部門Gal Hasson表示，新思先前所推出的ATPG（自動化測試型樣生成）工具TetraMAX?已經獲得的SGS-TUV所頒發的ISO 26262中最高等級的ASIL D認證。
Gal Hasson進一步談到，TetraMAX?的主要特色在於可以減少25%的測試型樣（Test Patterns）的輸出，但在測試型樣生成的速度也能大幅提升10倍，簡單來說，就是要為客戶節省測試成本。對於諸多晶片大廠，如高通、博通或是聯發科等，測試時間意味著測試成本的存在，所以如何進一步減少或是降低，成了這些業者的重要課題之一。新思能夠提供的，不光只是測試性分析，像是測試時間的壓縮、自我測試建置與良率分析等，都是新思所能提供的方案之一，
不過，Gal Hasson也強調，減少25%的測試型樣的確可以為客戶省出不少時間，但相對的，在沒有減少這25%的的情況下，相對的也能讓客戶所開發的晶片品質有所提升，所以相對的，在時間與品質之間的拿捏，就是客戶本身需要思考的課題。另一方面他也透露，目前已有車用晶片業者已將製程節點瞄準在14與16nm FinFET製程上，儘管無法透露客戶名稱，但新思已經著手協助他們處理這方面的設計與技術問題。
