半导体供应商意法半导体（STMicroelectronics；ST）所推出之IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的双轴数位倾角计，用於工业自动化和结构安全监控等应用，具有可设定的机器学习内核心和16个独立可设定之有限状态机，有助於为边缘装置节能省电，减少向云端传输的资料量。
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| 意法半导体新推出之IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的双轴数位倾角计，用於工业自动化和结构安全监控等应用 |
不仅内建先进的嵌入式功能，IIS2ICLX还能够降低系统功耗，延长电池供电节点的续航时间。该感测器固有之特性可简化与高性能产品的整合，并最大程度地减少感测器校准工作量和成本。
IIS2ICLX倾斜计采用MEMS加速度计技术，±0.5 /±1 /±2 /±3g满量程可选，并透过I2C或SPI数位介面输出资料。嵌入式补偿单元使温漂保持在0.075mg/。C以内，即使环境温度发生剧烈变动，感测器的测量精度和重复性表现也非常出色。15μg/??Hz的超低杂讯密度可达到高解析度倾角监测，以及结构健康监测所需的低声压的低频震动测量。
IIS2ICLX具有高稳定性和可重复性、高精度和高解析度的优势，适合於工业应用，例如天线指向监测、云台调平、叉车和建筑机械、调平仪器、设备安装监测、以及太阳能板安装和光线追踪，以及工业4.0应用，例如，机器人和自动驾驶汽车（Autonomous Guided Vehicle；AGV）。
在结构安全监控中，IIS2ICLX可以准确地测量倾斜度和震动，协助评估人员分析高楼等建筑物，以及桥梁或隧道等基础建设结构的完整性。相较采用早期相较昂贵之探测技术的结构安全监控感测器，的电池供电且价格适中的IIS2ICLX MEMS倾斜感测器能够为更多结构进行安全监控。
许多高精度倾斜计是单轴测量装置，而2轴IIS2ICLX加速度计却可以监控两个坐标轴与水平面的倾斜角（俯仰角和翻转角），或者将两个坐标轴合并成单轴，测量物体与水平面单一方向的倾斜角，可重复测量精度，而且解析度更高，同时亦可测量±180。范围内的倾角。数位输出可以节省外部数位类比转换或滤波元件，简化系统设计，降低物料清单（BOM）成本。
为了简化IIS2ICLX的开发设计，加速应用开发周期，意法半导体还提供了专门的感测器校准和倾斜角即时运算软体库，这些软体库属於STM32Cube的X-CUBE-MEMS1扩充套装软体。
IIS2ICLX采用5mm x 5mm x 1.7mm的高性能陶瓷腔LGA封装，作业温度范围从-40。C至+105。C。该产品现已量产。
