账号:
密码:
智动化 / 產品 /

爱德万测试推出高产能记忆体测试机 整合预烧及记忆体测试於单一系统
Dressing udstyr   2020年04月01日 星期三 浏览人次: [15987]

半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)发表最新多功能、高产能H5620记忆体测试机,能针对DRAM和LPDDR(低功耗双存取同步动态随机存取记忆体)装置进行预烧及记忆体单元测试。

5G技术时代来临,全球DRAM位元消耗预估将在2023年近??翻倍,而此波需求成长背後的主要推手,正是持续成长的资料处理和行动通讯市场,不仅资料中心要求更多记忆体,智慧型手机解析度升级、新增摺叠功能和多镜头设计等也是原因。随着记忆体IC平均售价持续缩水,半导体制造厂不可免的需要另辟蹊径,缩减测试成本、扩大产量。

效能优异的爱德万测试最新测试系统,能够满足这样的需求。H5620在生产环境中,能以100-MHz频率和高达200Mbps的资料传输率,平行测试超过1.8万个元件。此外,H5620能因应工厂自动化需求,还有具备个别热控制稳定度的双温箱结构,支援从-10。C到150。C大温度范围测试。

不仅如此,新系统结合原有记忆体单元测试与记忆体生产设备的预烧测试流程,不仅有助客户降低资本支出,也能节省工厂空间。

爱德万测试记忆体自动化测试设备事业群??总Takeo Miura表示:「这款测试机兼顾优异生产力与低廉测试成本,为检验现今最新DRAM元件的测试标准树立了新标竿。」

H5620使用具备多元工具组合的FutureSuite?作业系统。有了这套软体,测试机很容易能与爱德万测试原本的记忆体测试系统相容。另外,爱德万测试全球支援网也能立即提供客户在程式编码、除错、关联性分析和维修等方面的协助。

最新H5620测试机台已开始出货给客户,H5620ES工程模型也将於2020年第二季准备就绪。

相关产品
爱德万T2000测试平台推新通用型模组 扩充数位与电源供应功能
爱德万测试最新双波长雷射技术 3D影像一眼区别皮肤黑色素与血管网
爱德万测试研发出用於记忆测试系统STT-MRAM的切换电流测量系统
comments powered by Disqus
  相关新闻
» 意法半导体突破20奈米技术屏障 提升新一代微控制器成本竞争力
» 意法半导体先进高性能无线微控制器 符合将推出的网路安全保护法规
» 易格斯协助客户精进技术并降低成本 同时实现碳中和
» 心得科技:抓紧双轴智造趋势 与客户协同推动数位与绿能转型
» Lightning Motorcycles 纯电动摩托车创造陆地速度世界纪录
  相关文章
» 以霍尔效应电流感测器简化高电压感测
» 跨域延展实境 引领远端协作与永续资源发展的未来
» ADAS 前置摄影机设计的电源供应四大挑战
» 48 V低速电动车叁考设计 微型交通技术加速发展
» 强化供应链韧性 美国正积极补齐制造业缺囗
刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 / E-Mail: webmaster@hope.com.tw