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因應百萬兆級運算挑戰 愛德萬新系統支援數位IC測試
[SmartAuto 陳復霞 報導]   2020年10月22日 星期四 瀏覽人次: [994]

半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 針對運算效能達百萬兆級 (Exascale) 的先進數位IC,發表最新次世代V93000測試機。該系統搭載最新測試頭,結合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數位和電源供應卡,不僅能支援最新測試方法,更能降低測試成本、縮短產品上市時程。相較於上一世代的測試頭研發使用已近二十年,預期在思考測試如何演進下所研發設計的新測試頭能夠得以支援未來發展。至於可擴充的解決方案拓及各式大小的測試頭,並具備在單一測試系統上,針對數位、射頻、類比和電源等等混合元件功能進行測試的能力。

愛德萬測試發表最新次世代V93000測試機。(資料/ADVANTEST;攝影/陳復霞)
愛德萬測試發表最新次世代V93000測試機。(資料/ADVANTEST;攝影/陳復霞)

現今先進的半導體製程帶來技術的變革,隨著行動處理器、人工智慧(AI) 和高效能運算(HPC)晶片持續進化,隨著無數個資料來源而需要處理的資料量呈現爆炸性成長,而相對產生極大量的掃描數據、極端電源需求、快速的良率學習和多工同測的配置,讓收集資料數據必須快又很準,於嚴格要求下所衍生的測試挑戰在在都需要解決。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代強調極端運算能力,在原V93000架構上,運用創新技術解決上述挑戰,而且與現有平台具有相容性。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器,以獨特的能力加速並簡化測試工作。此外,V93000 EXA Scale系統還採用愛德萬測試專利Xtreme Link科技,乃是專為自動測試設備(ATE)所設計的通訊網路,能執行高速資料連接、嵌入式運算能力以及即時卡對卡 (card-to-card) 通訊。

隨著大量數位設計所導致的爆炸性成長的掃描資料需求,這套系統設計了最新Pin Scale 5000數位卡,Pin Scale 5000以可達5Gbit/s的速度為掃瞄測試奠定了新標準,同時提供深度最大的向量記憶體,並運用Xtreme Link科技,實現快速處理能力,讓客戶能夠為自家晶片選擇最有效率的掃描方法。

V93000 EXA Scale系統多彈性且穩定度高,在供電電壓小於1V同時能提供高達好幾千安培的超高電流需求下,使得ATE的電力傳輸能力成為決定性關鍵。XPS256電源供應卡是另一項業界創新,配備單一DPS卡就能涵蓋所有電源需求:極細粒度電源、無限量且具彈性的結夥,以及超凡的動態與靜態效能。此強化內部結構效能的自有技術符合一通道多應用,單卡上能有不同的功能。

Pin Scale 5000數位卡及XPS256電源供應卡均具備256個通道,在保有V93000領先業界、高度整合優勢的同時,使得密度倍增。多工同測的設置可以部署在較小型的實體系統上,藉此減少基礎架構成本和空間需求。

V93000 EXA Scale世代的現有V93000測試載板和Smart Scale卡,都能與最新V93000 EXA Scale世代無縫接軌,達到最佳資產利用。也藉由延續使用SmarTest軟體,讓客戶擁有龐大建置基礎的軟體架構和工具,可規劃在測試成本上做最有效的發揮。

邁向百萬兆級運算時代之際,不論是在效能、測試成本、品管及量產時程等方面所面臨的極端測試挑戰,透過EXA Scale為V93000平台注入的創新技術獲得解決。愛德萬測試目前已出貨數十套V93000 EXA Scale系統。

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