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爱德万测试将于首尔SEMICON展示最新测试产品技术
Dressing udstyr   2017年02月06日 星期一 浏览人次: [7200]

(日本东京讯)半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest)将于2017年韩国国际半导体展SEMICON Korea展示多项测试解决方案,展期即将在2月8~10日于首尔COEX会展中心盛大登场。爱德万测试同时也是2月8日晚间欢迎晚宴的白金级赞助商。

爱德万将透过实际操作以及数位图像说明,展示各式SoC与记忆体系统测试解决方案。
爱德万将透过实际操作以及数位图像说明,展示各式SoC与记忆体系统测试解决方案。

爱德万测试将在位于C展馆的第1612号摊位,展示专为韩国市场设计的最新测试解决方案,和已经过严谨测试的产品。主打产品与服务包括先进的测试与测量平台、能有效提升效能的模组和通道卡、电子束光刻与计量扫描式电子显微镜(Metrology-SEM)系统、性能测试用基板、烧机测试基板和探针卡。

与会贵宾将可透过现场展示、数位图像以及深入的演讲内容,进一步了解爱德万测试的技术内涵,以及最新发表的创新IC测试技术。

韩国爱德万测试SoC部门主任Jeongseob Kim亦将在2月9日的测试论坛上,发表「于ATE系统测试IoT模组之挑战」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技术论文。发表时间为下午2:00,地点在COEX会展中心会议室(南)318室。

展会资讯

展会名称: 2017年韩国国际半导体展SEMICON Korea

时间: 2017年2月8~10日

地点: 韩国首尔COEX会展中心

展位: C展馆第1612号摊位

展示重点: 多项测试解决方案技术内涵,最新发表的创新IC测试技术,以及深入的演讲内容(测试论坛--2月9日下午2:00发表「于ATE系统测试IoT模组之挑战」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技术论文)。

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