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爱德万最新V93000系统单晶片测试系统 解决百万兆级运算测试挑战
Dressing udstyr   2020年09月25日 星期五 浏览人次: [4317]

半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest Corporation)针对运算效能达百万兆级(Exascale)的先进数位IC ,发表最新次世代V93000测试机。该系统搭载最新测试头,结合Xtreme Link科技及EXA Scale通用数位和电源供应卡,不仅能支援最新测试方法,更能降低测试成本、缩短产品上市时程。

爱德万测试最新V93000 EXA Scale世代在V93000架构上解决当前面临的极端测试挑战。所有EXA Scale卡都配备爱德万测试最新一代8核心的测试处理器,以独特的能力加速并简化测试工作。
爱德万测试最新V93000 EXA Scale世代在V93000架构上解决当前面临的极端测试挑战。所有EXA Scale卡都配备爱德万测试最新一代8核心的测试处理器,以独特的能力加速并简化测试工作。

现今先进半导体制程带来技术的变革,得以即时整合来自物联网(IoT)、手持装置、汽车和大型伺服器等等无数个资料来源。随着行动处理器、高效能运算 (HPC) 和人工智慧 (AI) 晶片持续进化,需要处理的资料量也跟着爆炸性成长。新的测试挑战伴随这些进步接踵而来,譬如极大量的扫描数据、极端电源需求、快速的良率学习和多工同测的配置,在在都需要解决。

爱德万测试最新V93000 EXA Scale世代在已获业界肯定的V93000架构上,运用创新技术解决上述挑战。所有EXA Scale卡都配备爱德万测试最新一代8核心的测试处理器,以独特的能力加速并简化测试工作。此外,V93000 EXA Scale系统还采用爱德万测试专利Xtreme Link科技,乃是专为自动测试设备 (ATE) 所设计的通讯网路,能执行高速资料连接、嵌入式运算能力以及即时卡对卡 (card-to-card) 通讯。

这套系统的最新Pin Scale 5000数位卡,正是为了伴随着大量数位设计所导致的爆炸性成长的扫描资料而设计。Pin Scale 5000以可达5Gbit/s的速度为扫瞄测试奠定了新标准,同时提供市面上深度最大的向量记忆体,并运用Xtreme Link科技,实现业界最快的处理速度。有了这项科技,客户便能为自家晶片选择最有效率的扫描方法。

在供电电压小於1V同时能提供高达好几千安培的超高电流需求下,使得ATE的电力传输能力成为决定性关键。XPS256电源供应卡是另一项业界创新,配备单一DPS卡就能涵盖所有电源需求:极细粒度电源 (fine-granular power)、无限量且具弹性的结夥 (ganging),以及超凡的动态与静态效能。

Pin Scale 5000数位卡及XPS256电源供应卡均具备256个通道,在保有V93000高度整合优势的同时,使得密度倍增。多工同测的设置可以部署在较小型的实体系统上,藉此减少基础架构成本和空间需求。

爱德万测试V93000事业部常务总监暨执行??总Juergen Serrer表示:「当我们逐步迈向百万兆级运算时代,客户在效能、测试成本、品管以及量产时程等方面所面临的极端测试挑战,全都能透过EXA Scale为久经淬炼之V93000平台注入的创新技术获得解决。」

可扩充的解决方案拓及各式大小的测试头,并具备在单一测试系统上,针对数位、射频、类比和电源等等混合元件功能进行测试的能力。

V93000 EXA Scale世代依旧严守爱德万测试对於平台相容性的承诺。现有V93000测试载板和Smart Scale卡,都能与最新V93000 EXA Scale世代无缝接轨,达到最隹资产利用。也藉由延续使用获业界肯定的SmarTest软体,客户更能受益於已拥有庞大建置基础的软体架构和工具。

爱德万测试已向多家客户出货数十套V93000 EXA Scale系统。

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