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Silicon Labs全新SmartClock技术 提供汽车时脉产品故障检测功能
Dressing udstyr   2021年01月28日 星期四 浏览人次: [870]

晶片、软体和解决方案供应商芯科科技(Silicon Labs)宣布於其AEC-Q100合规的Si5332-AM时脉产生器系列中采用SmartClock新技术,在矽基的汽车时脉解决方案组合中扩展更多功能。全新SmartClock技术可主动监视叁考时脉,以检测潜在故障,并提供内建的时脉冗馀功能。

SmartClock技术将能满足日益成长的时脉监控及故障检测需求。
SmartClock技术将能满足日益成长的时脉监控及故障检测需求。

Silicon Labs时脉产品总经理James Wilson表示:「传统上汽车电子设计依赖石英晶体和振荡器,但其易於使整个使用寿命发生故障。 随着汽车应用对时脉的要求变得越来越复杂,所需的精密时脉数量也不断增加。SmartClock技术为系统设计人员提供新工具以主动监视系统时脉运行状况和可靠性,提高每项设计的弹性和操作性。」

SmartClock会在检测出现故障情况时与外部系统微控制器或系统安全管理器共享资讯,同时指示Si5332-AM切换到冗馀的备份源,以确保系统继续安全运行。 对於仅需在单一频率进行健康监视的应用,新型Si5118-AM SmartClock合成器可在叁考时脉源和端点之间运作。 这些创新功能有助於解决汽车联网、先进驾驶辅助系统、自动驾驶以及IVI /数位座舱等电子设计上日益复杂的时脉挑战。

目前可提供的新产品和功能

.在Si5332-AM时脉产生器产品系列中,SmartClock健康状况监视、故障检测和本地备份叁考为全新可客制化的功能,可运用Silicon Labs ClockBuilder Pro组态软体启用

.新型独立式Si5118-AM SmartClock合成器

.新版12输出Si5332-AM时脉产生器

.新版10输出Si53350-AM缓冲器

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