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愛德萬測試參展2017德州沃斯堡國際測試會議
[SmartAuto 陳復霞整理 報導]   2017年10月30日 星期一 瀏覽人次: [1915]

半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 將在10月31日至11月2日於美國德州沃斯堡 (Fort Worth) 盛大舉行的2017國際測試會議 (International Test Conference,ITC) 展示硬體與線上測試解決方案,並發表技術論文與海報。愛德萬測試持續擔任ITC白金級贊助商。

愛德萬測試於10月31日-11月2日參展2017德州沃斯堡國際測試會議展示最新IC測試解決方案並發表技術論文
愛德萬測試於10月31日-11月2日參展2017德州沃斯堡國際測試會議展示最新IC測試解決方案並發表技術論文

展示產品

愛德萬測試位於218號的攤位將展出隨選CloudTesting服務和EVA100類比/混合訊號IC測試解決方案最新功能。

首創先例的CloudTesting服務讓用戶可以隨時從愛德萬測試網站直接選用各式測試方法 (IP)。只要利用此種隨選線上服務,設計師即可在IC從晶圓廠一送達公司,在不需要資本支出之下以最低的費用成本, 在幾小時內建立相關測試環境來驗證新的矽智財。來到愛德萬測試ITC攤位的參觀者,將可以實地體驗到CTS桌上型測試系統如何以STIL格式產生之DFT Pattern來快速地驗證IC。愛德萬測試CloudTesting提供測試機免費租用服務及最實惠的維護成本,協助客戶避免預期以外的支出。

愛德萬測試EVA100類比/混合訊號測試解決方案結合模組化架構設計和高電壓、高精確度類比參數量測單位,使用彈性大,可因應廣泛的類比與混合裝置各種測量需求。EVA100產品家族最新機型能提供整合式伺服迴路功能,達到業界最短的測試時間與最高精確度。其18位元A/D轉換器擁有20位元線性度DC表現,以及超低飄移/雜訊源與參考電壓 (VREF),搭配高度直覺式的圖形使用者介面 (GUI),用戶得以大幅縮短其最新IC產品的上市時間。

論文發表

除了產品展示以外,愛德萬測試的專家也將於ITC著名的技術議程發表最新論文。

10月31日下午1:30,愛德萬測試的AT Sivaram將於企業論壇 (Corporate Forum) 時段發表 ”CloudTesting Service Simulator Interfaces”。11月1日上午8:30,愛德萬測試的Bob Bartlett將主持第四場會議 “Dealing with Jitter and Leveraging Light”。同場會議中,愛德萬測試的石田雅裕 (Masahiro Ishida) 與一山清隆 (Kiyotaka Ichiyama) 將於上午9:30發表論文 ”A Jitter Separation and BER Estimation Method for Asymmetric Total Jitter Distributions”。同日上午10:30,Don Blair將主持第八場會議,主題為 ”Interfaces, iJTAG and DDR Testing”。

同樣在星期三,愛德萬測試將在中午12:00至下午2:00於ITC海報發表議程的海報一 (Poster 1) 與 海報二 (Poster 2) 位置展示最新技術,資訊如下:

海報一:”Multisite PMIC Fast Trimming with Pattern-based Search Function”,發表人:愛德萬測試Kevin Fan

海報二:”Delay Fault Testing Using Cloud Testing Service”,發表人:愛德萬測試AT Sivaram、 Oyama Yasuji,與美國高通 (Qualcomm) 的Sam El Alam、Arul Subbarayan

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