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工研院與安立知共同建置400GE測試平台
[SmartAuto 陳復霞整理 報導]   2017年09月25日 星期一 瀏覽人次: [3528]

工研院擬於2017年底前完成高速量測實驗室建置,將成為亞洲當中與400GE & Silicon Photonics 相關應用的測試實驗室,對於台灣未來計畫發展成為高速光電元件研發重鎮的目標注入了一劑強心針。此外,該實驗室也將開放接受產學研各界進行所需量測之委託服務,工研院將率先與Anritsu安立知合作,提供單通道測試速率最高可達56Gbaud PAM4以及56Gb/s NRZ之誤碼率分析測試系統。

MP1800A誤碼測試平台具備56Gbaud PAM4/NRZ測試訊號產生與誤碼分析功能,提供400GE Device/Module驗證能力。
MP1800A誤碼測試平台具備56Gbaud PAM4/NRZ測試訊號產生與誤碼分析功能,提供400GE Device/Module驗證能力。

該測試系統結合了包含寬頻光頻譜分析儀 (Optical Spectrum Analyzer)、高精密度脈衝波型產生器 (PPG) 以及高靈敏度誤碼偵錯分析模組 (ED),能夠提供高品質反應速度 (fast Tr/Tf)、低訊號抖動與雜訊 (Low Jitter & Noise) 以及高振幅 (High Amplitude)的PAM4/NRZ測試訊號輸出,並且支援高靈敏度、即時性的誤碼偵錯分析功能。對於高速雷射收發模組以及矽光子(Silicon Photonics)等相關元件,可準確分析其特性以及發射與接收能力。

Anritsu安立知MP1800A訊號品質分析儀是一款模組式設計的誤碼率測試儀,其內建的多通道脈衝訊號產生器(PPG)與誤碼偵測器(ED)模組能夠提供高品質的誤碼率分析功能。透過搭配不同的遠端測試平台(Remote Probe Head),可彈性地同時支援包括 28G/56G NRZ與28G/56Gbaud PAM4測試,並且能夠輸出高達 4.4 Vp-p (最大差動訊號) 的高振幅測試訊號。此外,透過多通道的PPG同步功能可個別控制PAM4訊號的3個眼圖振幅,無需使用外部驅動放大器,即可提供高可再現性的光調變器評估測試。

該遠端測試平台也內建PAM4 解碼與 CTLE 功能,搭配 28Gbit/s 高靈敏度ED模組,可支援即時之PAM4誤碼率量測功能,對於提高系統之量測分析能力有相當大的幫助。此外,MS9740A 寬頻光頻譜分析儀亦能針對光電半導體以及相關被動元件提供高品質分析以及訊號檢測功能。

工研院電光系統所副所長高明哲表示:「在即時影音需求帶動下,網路流量不斷成長,雲端數據中心 (Data Center) 急需 400G Ethernet 傳輸介面支援,以因應爆炸性的網路流量成長。 工研院將進行對應雷射元件、光電二極體和矽光子開發研究,提供 400GE 所需的光學元件與收發器技術,進而提升台灣產業能力。」Anritsu安立知公司總經理陳逸樺補充說明:「Anritsu 安立知很榮幸能與工研院合作,此一合作驗證了 MP1800A 訊號品質分析儀的誤碼測試能力,同時肯定了 Anritsu 安立知長期致力光纖通訊與高速電路領域的成果,Anritsu 安立知深信這些能力亦將有助於為工研院提供最佳的測試環境。」

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