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NI 展示寬頻 5G 波形產生/量測技術─適用於 5G 測試應用
[SmartAuto 陳復霞整理 報導]   2017年07月25日 星期二 瀏覽人次: [5619]

NI於夏威夷檀香山舉行的2017年國際微波會議 (International Microwave Symposium,IMS)中,正式展示Pre-5G波形產生與量測技術。這場技術展示主要強調 Verizon 5G 技術論壇(5GTF)與3GPP提議之新無線電 (NR) 實體層,在訊號產生與波形分析的代表性地位。

NI於夏威夷檀香山舉行的2017年國際微波會議 (IMS)中,正式展示Pre-5G波形產生與量測技術。
NI於夏威夷檀香山舉行的2017年國際微波會議 (IMS)中,正式展示Pre-5G波形產生與量測技術。

此次技術展示結合運用了1 GHz頻寬的PXIe-5840第二代向量訊號收發器(VST),以及用於調變及解調的Pre-5G軟體。重要的波形調變功能,則包括同時支援離散傅立葉轉換展頻正交頻分多工(DFT-S-OFDM)與正交頻分多工存取(OFDMA),以及彈性的子載波間距與元件載波組態;後者可支援 3GPP 5G NR與Verizon 5GTF規格,且總支援頻寬高達1 GHz。此次展示可支援高達 256-QAM 的調變類型,以及包括功率、鄰近通道功率與誤差向量幅度的量測結果。此項技術展示的傳統應用範圍包括測試 RFIC,例如 RF 功率放大器、前端模組與收發器。

「在測試與量測作業上,由於NI通常採取軟體為主的方式,我們得以隨著軟體開發一併革新PXI測試系統」,NI無線設計與測試部門副總裁 Charles Schroeder 表示。「透過這類做法,工程師日後便能採用目前用來測試 LTE-A與 LTE-A Pro產品的相同VST架構測試系統,來測試 5G 產品。」

NI全新的5G測試技術,讓全方位的 RF 與無線測試產品組合如虎添翼;而全新推出的軟體,則讓目前用來測試 802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax、藍牙、GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS 等嶄新技術的解決方案更加完美。

NI的RF與更智慧化的無線測試系統採用NI先進VST技術,有助於工程師降低測試成本。這些測試系統受益於DC與毫米波等600多種PXI產品,並整合時序與觸發功能,可透過PCI Express Gen 3匯流排介面與亞毫微秒等級的同步化功能,提供高速資料傳輸。使用者可以善用LabVIEW的產能與TestStand軟體環境、合作夥伴構成的活躍生態系統、附加IP與應用工程師,大幅降低測試成本、縮短產品上市時間,並確保測試儀器能因應未來挑戰。

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