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愛德萬測試將於東京國際半導體展展示產品與發表技術論文
[SmartAuto 編輯部 報導]   2016年11月24日 星期四 瀏覽人次: [4576]

半導體設備測試供應商愛德萬測試(Advantest)將於12月14~16日在東京國際展示場舉行的2016年SEMICON Japan國際半導體展上,針對物聯網各式應用展示廣泛的測試解決方案。今年愛德萬測試仍將擔任該展會的黃金贊助商。

愛德萬將透過現場與互動式產品展示呈現全系列物聯網應用測試解決方案。
愛德萬將透過現場與互動式產品展示呈現全系列物聯網應用測試解決方案。

從愛德萬測試最新的測試解決方案到旗下獲業界肯定的產品,都將展示於位在第二展館#2445的攤位。展出的產品將分成物聯網應用常見的四大類型:工業、無線/穿戴式裝置、智慧家居以及連網汽車。愛德萬特色產品與服務將含括領先業界的測試與測量平台、提高效能的模組與通道卡、電子束測量與光刻工具、測試分類機、可供下載的測試程式、燒機測試系統、探針卡與現場服務。

愛德萬將透過現場與虛擬實境展示以及數位繪圖提供技術見解,與會來賓可藉此獲悉愛德萬測試於全球各地推出的所有最新IC測試創新技術。

愛德萬測試全球行銷傳播副總裁Judy Davies表示:「愛德萬致力提供客戶物聯網世界所需的量測解決方案以及所有相關產品。我們於今年度SEMICON Japan展覽會上的展出將體現此承諾,提供舊雨新知兼顧娛樂與知識的體驗。」

在12月15日下午2點20分於自駕與車連網論壇上,愛德萬測試ASD測試與量測事業群副總裁Shin Kimura將於會議大樓的A接待廳發表「物聯網社會與測試技術」的技術論文。

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