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安立知完成GCT半導體LTE-Advanced單晶片4X4 MIMO測試
[SmartAuto 編輯部 報導]   2015年05月14日 星期四 瀏覽人次: [5285]

安立知(Anritsu)MD8430A訊令測試儀與Rapid Test Designer(RTD)軟體,成功為GCT半導體公(GCT Semiconductor)完成其4G LTE-Advanced晶片(GDM7243Q)測試。

GCT半導體採用搭載配備RTD軟體的MD8430A訊令測試儀驗證其4×4 MIMO性能
GCT半導體採用搭載配備RTD軟體的MD8430A訊令測試儀驗證其4×4 MIMO性能

GCT半導體是先進4G行動半導體解決方案設計供應商,提供搭載支援LTE 4X4 MIMO載波聚合(CA)技術的先進FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7單晶片解決方案。GCT GDM7243Q晶片的運作及其 4X4 MIMO功能已經通過安立知的訊令測試系統測試。4x4 MIMO(Multiple Input Multiple Output)是指在LTE基地台使用4支發射天線,並在用戶設備(UE)裝置內建4支接收天線,以便提高頻譜效率,實現更高資料傳輸量以及改善覆蓋範圍。

安立知的MD8430A LTE訊令測試儀可模擬多達8支發射天線的基地台。GCT的研發團隊採用以安立知RTD軟體控制的MD8430A測試儀,在4x4 MIMO連線下以高達300Mbps的速率進行傳輸,並驗證其晶片能夠在更長的時間週期下保持穩定的連接。

GCT半導體技術長暨研發副總裁Dr. Jeong-Min Kim表示:「GCT信賴安立知的設備來測試 LTE-Advanced晶片,安立知的MD8430A和RTD解決方案已被證明是可支援如 4×4 MIMO 等關鍵性能的平台。」

安立知執行副總裁 Kenji Tanaka 表示:「安立知獲得GCT半導體的選擇,採用搭載RTD軟體的 MD8430A驗證其4×4 MIMO性能。此舉顯示安立知持續協助LTE設備製造商在激烈市場競爭中驗證其尖端技術,並且有效縮短產品上市時間。」

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