账号:
密码:
智动化 / 新闻 /

揭开工业物联网先进量测 NI带领企业抢攻边缘运算新阵地
2017台北国际自动化工业大展
Dressing udstyr   2017年08月30日 星期三 浏览人次: [6235]

NI国家仪器致力於协助工程师与科学家解决全球最艰钜的工程挑战,将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算(Edge Computing)理想的解决方案,并透过现场实机展示让与会者体验工业4.0的技术新思维。

NI国家仪器将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算解决方案。
NI国家仪器将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算解决方案。

在大数据蓬勃发展的时代,许多企业开始研发能够撷取工厂实际层(The Edge)与设备数据的边缘运算技术,让工程师能在严苛的工业环境下,运用最隹的边缘运算装置进行量测工程。本次展览中,国家仪器将展出的NI CompactRIO嵌入式应用控制平台,即具备高稳定的架构以减少机器维护成本;即时资料分析能满足边缘装置作业的需求;支援多通讯讯号处理功能与装置联网能力,协助企业加速工厂部署感测器节点,并突破工程师在第一线的研发困境。

NI CompactRIO为工业物联网最隹的开发平台,应用层面涵盖机械状态监控、进阶运动控制、智慧电网监控分析与机器视觉整合等领域。而针对嵌入式应用,NI亦提供相对应的需求,包含线上嵌入式监控、弹性化的进阶控制、直觉式的开发软体,让工程师能够在稳定的监测状态下提升量测效率,进而达到企业大量布署与创新研发的目标。

此次展览NI更携手台耀科技与均??科技进行实机展示。台耀科技-FPGA高速视?检测机台透过LabVIEW开发视觉检测的相关应用,并搭载NI Single-Board RIO单板嵌入式系统,以使用FPGA技术实现弹性喷嘴控制与触发功能;均??科技-FPGA雷射修阻机(Laser Trimmer)则以PXI模组化量测控制系统,搭配PXI FPGA与SMU完成高速雷切功率控制与精准电阻值的量测,建构节省空间且灵活运用的FPGA雷射修阻机。

展览资讯

展览名称:2017台北国际自动化工业大展

时 间:9月6~9日

地 点:台北南港展览馆4楼

展 位:N1108

展示内容:一窥NI完整、能协助企业节省自动化设备大量布署成本的工业物联网解决方案,同时可体验最新趋势的技术浪潮,感受逐年推进的工业4.0研发动能。

相关新闻
研华与群联打造「平民化」GenAI方案 落实边缘运算与工控应用
速博康:以工业物联网为既有厂房创新价值
TI视觉处理器有效扩展智慧摄影机的边缘AI性能
德承於Embedded World 2022展示多元嵌入式运算解决方案
施耐德电机Easy微型资料中心推动边缘运算更快速可靠
comments powered by Disqus
  相关产品
» 爱德万测试首款医疗仪器Lumifinder萤光侦测系统亮相
» 是德法规测试新方案 加速免许可频段的无线装置认证
» 意法半导体先进影像感测器强化下一代汽车安全系统的驾驶监测功能
» 亚信电子单电缆EtherCAT P产品应用
» NI 推出Sub-6 GHz 5G新空囗叁考测试方案
  相关文章
» 关键元件与装置品质验证的评估必要
» 为行车安全把关:智慧座舱自动化测试平台
» 量测助力产业创新的十大关键字
» 你的资通讯产品在2050全球净零路径上吗?
» 建立整合式技术堆叠 AI 驱动测试自动化


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 / E-Mail: webmaster@hope.com.tw