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爱德万测试将于东京国际半导体展展示产品与发表技术论文
Dressing udstyr   2016年11月24日 星期四 浏览人次: [5560]

半导体设备测试供应商爱德万测试(Advantest)将于12月14~16日在东京国际展示场举行的2016年SEMICON Japan国际半导体展上,针对物联网各式应用展示广泛的测试解决方案。今年爱德万测试仍将担任该展会的黄金赞助商。

爱德万将透过现场与互动式产品展示呈现全系列物联网应用测试解决方案。
爱德万将透过现场与互动式产品展示呈现全系列物联网应用测试解决方案。

从爱德万测试最新的测试解决方案到旗下获业界肯定的产品,都将展示于位在第二展馆#2445的摊位。展出的产品将分成物联网应用常见的四大类型:工业、无线/穿戴式装置、智慧家居以及连网汽车。爱德万特色产品与服务将含括领先业界的测试与测量平台、提高效能的模组与通道卡、电子束测量与光刻工具、测试分类机、可供下载的测试程式、烧机测试系统、探针卡与现场服务。

爱德万将透过现场与虚拟实境展示以及数位绘图提供技术见解,与会来宾可借此获悉爱德万测试于全球各地推出的所有最新IC测试创新技术。

爱德万测试全球行销传播副总裁Judy Davies表示:「爱德万致力提供客户物联网世界所需的量测解决方案以及所有相关产品。我们于今年度SEMICON Japan展览会上的展出将体现此承诺,提供旧雨新知兼顾娱乐与知识的体验。」

在12月15日下午2点20分于自驾与车连网论坛上,爱德万测试ASD测试与量测事业群副总裁Shin Kimura将于会议大楼的A接待厅发表「物联网社会与测试技术」的技术论文。

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