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晶圆检测:高解析度全域快门相机提升晶圆缺陷检测效率
[作者 The Imaging Source兆鎂新]   2024年09月25日 星期三 浏览人次: [1067]

在半导体制造行业中,晶圆的缺陷检测是确保产品品质的关键环节。晶圆缺陷检测的精确性直接影响到产品的质量和生产效率。


本文将详细介绍DFK38UX304相机在该应用案例中的表现,并探讨其如何提升检测效率和准确性。


人工检测的问题
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